Seminarprogramm 2009
Seminar "Moderne Oberflächenanalytik"
Der Oberflächen-, Grenzflächen- und Mikrobereichsanalytik kommt heute in der industriellen Praxis eine große Bedeutung zu. Im Bereich Forschung und Entwicklung, Prozesskontrolle, Qualitätssicherung und natürlich im Schadens- oder Reklamationsfall gibt es ein ganze Reihe unterschiedlicher analytischer Fragestellungen, die nur mit geeigneten, oberflächenanalytischen Methoden, wie z. B. AFM, XPS (ESCA), REM/EDX oder TOF-SIMS, bearbeitet werden können.Dieses Seminar vermittelt Ihnen einen Überblick über die wichtigsten oberflächenanalytischen Methoden, erklärt verständlich, wie sie funktionieren, welchen Nutzen Sie im Einzelfall davon erwarten können und wo die Grenzen liegen. Die Arbeitsweise der Geräte wird in praktischen Vorführungen demonstriert. Bringen Sie hierzu gern eigene Proben mit; wir können diese einer ersten Analyse unterziehen.
Auch für Gespräche mit den Referenten und anderen Teilnehmern steht ausreichend Zeit zur Verfügung. HINWEIS: Um die hohe Qualität dieses Seminars sicherzustellen, ist die Teilnehmerzahl begrenzt.
| Seminar "Moderne Oberflächenanalytik" 24. - 25. 09. 2009 |
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