Rasterkraftmikroskopie (AFM) - Anwendungsbeispiele

Vermessung von CD/DVD Strukturen mittels AFM

Hinweise zur Probennahme und -handhabung für oberflächenanalytische Techniken (z.B. XPS / ESCA, SIMS, AFM)

Untersuchung klebender Dispersionsschichten mittels AFM

Charakterisierung der inneren Struktur eines Polymerblends mittels AFM