Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Stärken der Technik

Dreidimensionale Abbildung und Vermessung von Oberflächen
Bestimmung von Rauheiten, Stufenhöhen und Steigungen
Anwendbar im Vakuum, an Luft und unter Flüssigkeiten
Abbildung der Lateralverteilung von elektrostatischen und magnetischen Feldern
Darstellung mechanischer Materialkontraste

Technische Daten

Informationstiefe:	1 Monolage
Vertikale und laterale Auflösung:	bis zu 0,3 nm
Messbereich:	max. 100 x 100 µm²

Weitergehende Informationen

Anwendungsbeispiele
Methodeninformation (AFM) [PDF, 136kB]
Aktuelle Seminarangebote