Lichtmikroskopie (Auflichtmikroskopie)
Stärken der Technik
- Schnelle Abbildung von Oberflächen und Querschnitten, z.B.
- Zur Vermessung von Schichtdicken am Querschnitt
- Zur Untersuchung von metallischen Gefügen - Einsatz unterschiedlichster Kontrastierungsverfahren möglich, z.B.:
- Polarisationsmikroskopie
- Fluoreszenzmikroskopie
- DIC Mikroskopie
Technische Daten
Laterale Auflösung: |
ca. 0,5 nm Stufenweise von. 10x bis 1000x |
Weitergehende Informationen