Photoelektronenspektroskopie (XPS / ESCA) - Anwendungsbeispiele

Bestimmung des Vernetzungsgrades von SiOx-Schichten

Untersuchung einer CVD-Beschichtung mittels XPS

Bestimmung von Oxidschichtdicken mittels XPS

Oxidschichtdickenbestimmung am Beispiel einer Aluminiumoberfläche

Haftung an Polymeroberflächen

XPS- und SIMS-Untersuchungen von vorbehandelten Oberflächen zum Zweck der Haftungsverbesserung

Leitfaden zur Probenhandhabung

Hinweise zur Probennahme und -handhabung für oberflächenanalytische Techniken (z.B. XPS / ESCA, SIMS, AFM)

Tiefenprofilanalyse mittels XPS

XPS-Sputtertiefenprofil einer Festplatte