Photoelektronenspektroskopie (XPS / ESCA)

Stärken der Technik

Quantitative Analyse der Oberfläche
Nachweis aller Elemente außer H und He
Identifizierung von Bindungs- und Oxidationszuständen
Anwendbar auf unterschiedlichste Probensysteme (Papiere, Polymere, Metalle, Gläser, ...)
Erstellung von Tiefenprofilen

Nachweisbare Elemente:	Li bis U; chemische Bindungszustände
Nachweisgrenze:	0,01 - 1 At%, Sub-Monolagen
Quantifizierung:	ja
Informationstiefe:	ca. 5 - 10 nm
Laterale Auflösung:	3 µm - 2 mm
Besonderheiten:	variable Probentemperatur zwischen 170 und 1000 °K