Analytische Methoden (XPS, SIMS, REM, EDX, ...)

Für die Bearbeitung oberflächenanalytischer Fragestellungen werden von uns insbesondere folgende Methoden eingesetzt:

Ergänzend bieten wir auch folgende Analysetechniken an:

Semiautomatische Partikelanalyse

Augerelektronenspektroskopie und -mikroskopie (AES)

Kontaktwinkelmessungen

Nano– und Mikroindentation

Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

Glimmentladungsspektroskopie (GDOS)

Sekundärionen-Neutralteilchenmassenspektroskopie (SNMS)

Weitere Analysemethoden auf Anfrage...