Anwendungsbeispiele oberflächenanalytischer Methoden

An dieser Stelle haben wir für Sie einige Anwendungsbeispiele zusammengestellt.

REM/EDX-Untersuchung von Metallrückständen in Knochenmaterial

Vergleichende Profilometrie an gealterten Keramikglasuren

Profilometrie- und REM-Abbildung von behandelten Elastomeroberflächen

Untersuchung einer CVD-Beschichtung mittels XPS

Oxidschichtdickenbestimmung am Beispiel einer Aluminiumoberfläche

XPS- und SIMS-Untersuchungen von vorbehandelten Oberflächen zum Zweck der Haftungsverbesserung

Charakterisierung der inneren Struktur eines Polymerblends mittels AFM

Untersuchung klebender Dispersionsschichten mittels AFM

Hinweise zur Probennahme und -handhabung für oberflächenanalytische Techniken (z.B. XPS / ESCA, SIMS, AFM)

Vermessung von CD/DVD Strukturen mittels AFM

Beispiele für die Vermessung von Topographien mittels Profilometrie

XPS-Sputtertiefenprofil einer Festplatte