Verfärbungen auf Metalloberflächen sind in vielen Bereichen ein bekanntes Problem. Oberflächenanalytische Techniken spielen bei der Fehleranalyse eine wichtige Rolle.
Untersuchungen von funktionalisierten Polystyrol Oberflächen für Zell-Biologische Versuche (in Englisch)
Bei der Routinereinigung wurden im Brennraum eines Brennwertkessels Verbrennungsrückstände gefunden. Die Zusammensetzung der Rückstände wurde mittels REM/EDX untersucht.
Die Anforderungen an Beschichtungen auf Stahl- oder Polymersubstraten sind oft sehr hoch. Neben einer einwandfreien Optik soll die Beschichtung oft auch eine Schutzwirkung für das Substrat leisten. Die Fehlerursachen bei diesen recht komplex aufgebauten Systemen können vielfältig sein.
XPS-Sputtertiefenprofil einer Festplatte
Beispiele für die Vermessung von Topographien mittels Profilometrie
Nachweis spezifischer, chemischer Gruppen an Oberflächen mittels XPS
Vermessung von CD/DVD Strukturen mittels AFM
Hinweise zur Probennahme und -handhabung für oberflächenanalytische Techniken (z.B. XPS / ESCA, SIMS, AFM)
Untersuchung klebender Dispersionsschichten mittels AFM
Charakterisierung der inneren Struktur eines Polymerblends mittels AFM
XPS- und SIMS-Untersuchungen von vorbehandelten Oberflächen zum Zweck der Haftungsverbesserung
Bei der Fluorierung von Polymeroberflächen wird die Oberfläche des Materials morphologisch und chemisch verändert. Die Photoelektronenspektroskopie bietet die Möglichkeit, die chemischen Veränderungen quantitativ und qualitativ zu untersuchen.
In der industriellen Produktion ist schlechte Haftung auf Kunststoffoberflächen immer wieder Ursache für Fehler von Produkten. Die eigentliche Ursache für die Probleme ist nicht immer ohne weiteres eindeutig identifizierbar und bedarf daher geeigneter analytischer Techniken zur Problemlösung.
Die Reinigung und Vorbehandlung von Oberflächen ist in vielen Bereichen der Industrie ein allgegenwärtiges Thema. Probleme mit Kontaminationen aufgrund unzureichender Reinigung oder nicht adäquater Vorbehandlungen können zu massiven Schwierigkeiten in der Produktion führen.
Oxidschichtdickenbestimmung am Beispiel einer Aluminiumoberfläche
Untersuchung einer CVD-Beschichtung mittels XPS
Profilometrie- und REM-Abbildung von behandelten Elastomeroberflächen
Vergleichende Profilometrie an gealterten Keramikglasuren
Untersuchung bzgl. Metallrückständen in Knochen nach dem Entfernen eines Dentalimplantates.
