Anwendungsbeispiele oberflächenanalytischer Methoden

Verfärbung von Metalloberflächen

Verfärbungen auf Metalloberflächen sind in vielen Bereichen ein bekanntes Problem. Oberflächenanalytische Techniken spielen bei der Fehleranalyse eine wichtige Rolle.

Untersuchungen an Zellkulturoberflächen (engl.)

Untersuchungen von funktionalisierten Polystyrol Oberflächen für Zell-Biologische Versuche (in Englisch)

Untersuchung von Rückständen aus dem Brennraum eines Gas-Brennwertkessels

Bei der Routinereinigung wurden im Brennraum eines Brennwertkessels Verbrennungsrückstände gefunden. Die Zusammensetzung der Rückstände wurde mittels REM/EDX untersucht.

Tiefenprofilanalyse mittels XPS

XPS-Sputtertiefenprofil einer Festplatte

Quantitative Analyse von Oberflächenmorphologien

Beispiele für die Vermessung von Topographien mittels Profilometrie

Quantifizierung chemischer Gruppen

Nachweis spezifischer, chemischer Gruppen an Oberflächen mittels XPS

Optische Speichermedien

Vermessung von CD/DVD Strukturen mittels AFM

Leitfaden zur Probenhandhabung

Hinweise zur Probennahme und -handhabung für oberflächenanalytische Techniken (z.B. XPS / ESCA, SIMS, AFM)

Klebende Dispersionsschichten

Untersuchung klebender Dispersionsschichten mittels AFM

Innere Struktur von Polymerblendsystemen

Charakterisierung der inneren Struktur eines Polymerblends mittels AFM

Haftung an Polymeroberflächen

XPS- und SIMS-Untersuchungen von vorbehandelten Oberflächen zum Zweck der Haftungsverbesserung

Fluorierung von Polymeroberflächen

Bei der Fluorierung von Polymeroberflächen wird die Oberfläche des Materials morphologisch und chemisch verändert. Die Photoelektronenspektroskopie bietet die Möglichkeit, die chemischen Veränderungen quantitativ und qualitativ zu untersuchen.

Derivatisierung zur Analyse von Oberflächen mit XPS

In der industriellen Produktion ist schlechte Haftung auf Kunststoffoberflächen immer wieder Ursache für Fehler von Produkten. Die eigentliche Ursache für die Probleme ist nicht immer ohne weiteres eindeutig identifizierbar und bedarf daher geeigneter analytischer Techniken zur Problemlösung.

Bestimmung von Oxidschichtdicken mittels XPS

Oxidschichtdickenbestimmung am Beispiel einer Aluminiumoberfläche

Bestimmung des Vernetzungsgrades von SiOx-Schichten

Untersuchung einer CVD-Beschichtung mittels XPS

Analyse behandelter Elastomeroberflächen

Profilometrie- und REM-Abbildung von behandelten Elastomeroberflächen

Alterung von Keramikglasuren

Vergleichende Profilometrie an gealterten Keramikglasuren

Abrieb von Titanimplantaten

Untersuchung bzgl. Metallrückständen in Knochen nach dem Entfernen eines Dentalimplantates.