Quer- und Zielschliffe

Stärken der Technik

• Untersuchungen von Schichtaufbauten (Dicke, Zusammensetzung)
• Untersuchung von Einschlüssen
• insbesondere für die Probenpräparation für die  Rasterelektronenmikroskopie (REM) und die Lichtmikroskopie geeignet
  

Technische Daten

Probengröße:

einige mm bis ca. 1 cm