Quer- und Zielschliffe

Stärken der Technik

• Probenpräparation für die  Rasterelektronenmikroskopie (REM) und die Lichtmikroskopie:
• Untersuchungen von Schichtaufbauten (Dicke, Zusammensetzung)
• Metallographische Untersuchungen
• Untersuchung von Einschlüssen

Technische Daten

Probengröße:

einige mm bis ca. 2 cm (Probe muss ggf. vorpräpariert werden)