Die Restschmutzanalyse von Oberflächen

Im Bereich der industriellen Teilreinigung von Oberflächen ist die Restschmutzanalyse ein komplexes, aber wichtiges Thema.

Bei der Restschmutzanalyse wird die Oberflächensauberkeit von sehr unterschiedlichen Materialien betrachtet. Allerdings gibt es verschiedene Formen der Verschmutzung – so dient eine Restschmutzanalyse nicht nur dazu, partikulären Restschmutz zu identifizieren, sondern zum Beispiel auch, um filmische Verunreinigungen zu untersuchen.

Rückstände aus Produktions- oder Reinigungsprozessen aber auch die Kontaminationen aus der Luft werden bei einer Restschmutzanalyse festgestellt. Je nach spezifischer Fragestellung bietet nanoAnalytics dafür verschiedene Verfahren an. Dazu zählen die IR Spektroskopie, die Elektronenspektroskopie, die EDX Analyse mit einem Rasterelektronenmikroskop (kurz: REM EDX), aber auch die Photoelektronenspektroskopie (kurz: XPS Analyse) und die Sekundärionen­massen­spektroskopie (kurz: TOF SIMS). Dabei ist es wichtig, dass die Analytik den genauen Anforderungen angepasst wird.

Das Team von nanoAnalytics berät Sie gerne, welche der verschiedenen Materialanalysen sich am besten für die spezifische Restschmutzanalyse eignet. Möchten Sie einen Termin mit uns vereinbaren? Wir freuen, wenn Sie uns unter 0251-53406300 anrufen oder uns eine E-Mail an schicken!