Elemente nachweisen mit der Photoelektronenspektroskopie (XPS / ESCA)

Die Photoelektronenspektroskopie eignet sich bestens, um alle Elemente außer Wasserstoff und Helium nachzuweisen. Dabei erfolgen, durch die Identifizierung von Bindungs- und Oxidationszuständen sowie von funktionellen Gruppen, quantitative Materialanalysen.

Der Vorteil bei der Bestimmung der Elemente besteht vor allem darin, dass die XPS Analyse, wie die Photoelektronenspektroskopie auch abgekürzt wird, auf unterschiedlichste Probensysteme anwendbar ist. Dazu zählen Papiere, Polymere aber auch Metalle oder Gläser.

Bei einer Photoelektronenspektroskopie Untersuchung können zudem Tiefenprofile durch sputtern mit monoatomaren und Clusterionen aus Argon erstellt werden. Dies ist bei anorganischen und organischen Proben möglich. Die Messung der Dicke von dünnen Oberflächenbelegungen im Rahmen der Photoelektronenspektroskopie erfolgt dabei ohne, die Oberfläche zu zerstören. Die Informationstiefe der XPS Analyse liegt zwischen 2 und 10 Nanometer.

Haben Sie Fragen, wie wir bei einer Photoelektronenspektroskopie vorgehen oder wie wir grundsätzlich die Zusammensetzung einer Oberfläche bestimmen? Vereinbaren Sie mit uns einen Termin unter 0251-53406300 oder senden Sie uns eine E-Mail an .