Seminarprogramm

Seminar "Moderne Oberflächenanalytik"

Der Oberflächen-, Grenzflächen- und Mikrobereichsanalytik kommt heute in der industriellen Praxis eine große Bedeutung zu. Im Bereich Forschung und Entwicklung, Prozesskontrolle, Qualitätssicherung und natürlich im Schadens- oder Reklamationsfall gibt es ein ganze Reihe unterschiedlicher analytischer Fragestellungen, die nur mit geeigneten, oberflächenanalytischen Methoden, wie z.B. AFM, XPS/ESCA, REM/EDX, TOF-SIMS, bearbeitet werden können.

Dieses Seminar vermittelt Ihnen einen Überblick über die wichtigsten oberflächen­analytischen Methoden, erklärt verständlich, wie sie funktionieren, welchen Nutzen Sie im Einzelfall davon erwarten können und wo die Grenzen liegen. Die Arbeitsweise der Geräte wird in praktischen Vorführungen demonstriert.

Auch für Gespräche mit den Referenten und anderen Teilnehmern steht ausreichend Zeit zur Verfügung. Bringen Sie gern eigene Proben mit. In den praktischen Vorführungen werden wir diese einer ersten Analyse unterziehen.

HINWEIS: Um die hohe Qualität dieses Seminars sicherzustellen, ist die Teilnehmerzahl begrenzt.

Seminar "Moderne Oberflächenanalytik" 20.-21.09.2007	Flyer [PDF, 100kB]
Seminar "Moderne Oberflächenanalytik" 06.-07.11.2008	Flyer + Anmeldung [PDF, 100kB]