Intermetallische Phasen - mittels Ionenätzen zum perfekten Querschnitt für die Analyse

Metallische Schichtsysteme spielen in vielen Bereichen der Elektronik oder elektrischen Kontakte eine wichtige Rolle. Schichtdicken und intermetallische Phasen sind oft entscheidend für die Güte oder Funktionalität eines Bauteils.
Die individuelle Ausprägung der jeweiligen Schichten kann an einem Proben-Querschnitt untersucht werden. Weisen einzelne Schichten eine hohe Duktilität auf, eignet sich das Ionenätzen hervorragend, um aussagekräftige Querschnitte für die Analyse herzustellen.

Cu-Sn-Grenzfläche

REM Abbildung der Cu/Sn-Grenzfläche. Die intermetallische Phase besteht aus einer kupferärmeren η-Phase und der kupferreicheren ε-Phase (typischerweise Indiz für eine längere thermische Behandlung).

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ArBlade5000

Das ArBlade5000 erzeugt Proben-Querschnitte bis zu einer maximalen Breite von 8 mm bei niedriger Präparationszeit. Optionales Kühlen der Probe erlaubt zudem die Präparation temperaturempfindliche Materialien.

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