Navigation überspringen
  • Start
  • Unternehmen
    • Vorstellung
    • Team
    • Akkreditierung
    • Konferenzen, Messen
    • Publikationen
    • Auszeichnungen
  • Auftragsanalytik
    • Übersicht
    • Analysetechniken
      • Rasterelektronen­mikroskopie (REM)
      • Röntgenmikrobereichs­analytik (EDX)
      • Photoelektronen­spektroskopie (XPS)
      • Sekundärionenmassen­spektrometrie (TOF-SIMS)
      • Infrarotspektroskopie (IR, ATIR)
      • Optische Profilometrie
      • Rasterkraftmikroskopie (AFM)
      • Kontaktwinkelmessungen
    • Präparationstechniken
    • Anwendungsbereiche
      • Haftung und Adhäsion
      • Oberflächenreinheit und Restschmutz
      • Filmische Verunreinigungen
      • Analyse von Zusammensetzungen
      • Korrosion und Materialabbau
      • Tiefenprofile und Diffusion
      • Fehler- und Schadens­analysen
      • Oberflächenanalytik
      • Morphologie und Topographie
      • Oberflächenchemie
      • Dünnfilm- und Schichtsystem-Analytik
    • Branchen
      • Automobilindustrie
      • Polymere und Chemikalien
      • Medizinprodukte
    • Laborvergleich
      • Anmeldung
      • Frühere Ergebnisse
      • Ergebniseingabe
    • FAQ
  • Produkte
    • Übersicht
    • cellZscope
      • cellZscopeE
      • cellZscope+
      • cellZscope2
      • Publikationen
      • Distributoren
      • Newsletter
    • Q-Control / QFM-Module
      • Funktionsweise
      • Anwendungen
      • Spezifikationen
      • Publikationen
      • Distributoren
  • Kontakt
    • Kontaktformular
    • Anreise
    • Impressum
    • Datenschutz
  • Login
 
Navigation überspringen
  • Login
 
  • DE
  • EN
Navigation überspringen
  • Start
  • Unternehmen
    • Vorstellung
    • Team
    • Akkreditierung
    • Konferenzen, Messen
    • Publikationen
    • Auszeichnungen
  • Auftragsanalytik
    • Übersicht
    • Analysetechniken
      • Rasterelektronen­mikroskopie (REM)
      • Röntgenmikrobereichs­analytik (EDX)
      • Photoelektronen­spektroskopie (XPS)
      • Sekundärionenmassen­spektrometrie (TOF-SIMS)
      • Infrarotspektroskopie (IR, ATIR)
      • Optische Profilometrie
      • Rasterkraftmikroskopie (AFM)
      • Kontaktwinkelmessungen
    • Präparationstechniken
    • Anwendungsbereiche
      • Haftung und Adhäsion
      • Oberflächenreinheit und Restschmutz
      • Filmische Verunreinigungen
      • Analyse von Zusammensetzungen
      • Korrosion und Materialabbau
      • Tiefenprofile und Diffusion
      • Fehler- und Schadens­analysen
      • Oberflächenanalytik
      • Morphologie und Topographie
      • Oberflächenchemie
      • Dünnfilm- und Schichtsystem-Analytik
    • Branchen
      • Automobilindustrie
      • Polymere und Chemikalien
      • Medizinprodukte
    • Laborvergleich
      • Anmeldung
      • Frühere Ergebnisse
      • Ergebniseingabe
    • FAQ
  • Produkte
    • Übersicht
    • cellZscope
      • cellZscopeE
      • cellZscope+
      • cellZscope2
      • Publikationen
      • Distributoren
      • Newsletter
    • Q-Control / QFM-Module
      • Funktionsweise
      • Anwendungen
      • Spezifikationen
      • Publikationen
      • Distributoren
  • Kontakt
    • Kontaktformular
    • Anreise
    • Impressum
    • Datenschutz
  • Login
 

Unternehmen
Auszeichnungen

  • Sie sind hier:
  • Unternehmen ›
  • Auszeichnungen

Im Bereich der Geräteentwicklung wurde nanoAnalytics ausgezeichnet mit dem

  • Transferpreis der Westfälischen Wilhelms-Universität Münster 
  • Innovationspreis Münsterland für Wissenschaft und Wirtschaft 

 

Innovationspreis Münsterland   Transferpreis der WWU Münster

 

Sofort
Kontakt

T +49.(0)251.53406300
inullnfo@nanoanalytics.de

Kontakt

nanoAnalytics ist ein durch die DAkkS nach DIN EN ISO/IEC 17025 akkreditiertes Prüflaboratorium.

Copyright © 2018 nanoAnalytics GmbH

Impressum & Datenschutz . Veröffentlichungen